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MiniTest 600 B-F3特性德國EPK測厚儀原裝
MiniTest 600 FN現(xiàn)已停產(chǎn)(產(chǎn)品600B-FN2替代)(統(tǒng)計,兩用型,0-2000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um)
MiniTest 600 B-F3特性德國EPK測厚儀原裝
MiniTest 600 B-F3 (存儲統(tǒng)計型，鐵基涂層,0-3000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um)
MiniTest 600 B-N2 (存儲統(tǒng)計型，非鐵基涂層,0-2000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um)
MiniTest 600 B-FN2 (存儲統(tǒng)計型，兩用型,0-2000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um)
MiniTest 600 F停產(chǎn)(600B-F3替代)(統(tǒng)計型,鐵基涂層,0-3000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um)
MiniTest 600 N停產(chǎn)(600B-N2替代)(統(tǒng)計型,非鐵基涂層,0-2000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um)
MiniTest 600 FN停產(chǎn)(600B-FN2替代)(統(tǒng)計,兩用型,0-2000um,含校準(zhǔn)箔,防塵套，分辨率1um)
技術(shù)參數(shù)：
測量范圍 | F型 0-3000μm |
N型 0-2000μm | |
FN 型 （兩用型） 0-2000μm | |
允許誤差： | ±（2%讀值+2μm） |
小曲率半徑： | 5mm（凸）25mm（凹） |
小測量面積： | φ20mm |
小基體厚度： | 0.5mm（對F型），50μm（對N型） |
顯示： | LCD 128X64 |
測量單位： | μm-mils可選 |
校準(zhǔn)方式： | 標(biāo)準(zhǔn)校準(zhǔn)、一點校準(zhǔn)、二點校準(zhǔn) |
統(tǒng)計數(shù)據(jù)： | 實時統(tǒng)計；讀值個數(shù)，大、小、平均值，標(biāo)準(zhǔn)方差；大批組數(shù) |
接口： | USB |
電源： | 2節(jié)5號堿電池 |
儀器尺寸： | 64mm× 115mm ×25mm |
測頭尺寸： | φ15mm ×62mm |
涂層測厚儀校準(zhǔn)注意事項，應(yīng)注意下列要點：
1.正確的校準(zhǔn)對產(chǎn)品測量是至關(guān)重要的。對于校準(zhǔn)，將采用一個與后來被測量的物體相類似的樣品，即同時，標(biāo)準(zhǔn)試樣和衡量的對象應(yīng)具有相同的形狀和幾何?；旧?，更多測量對象的標(biāo)準(zhǔn)試樣匹配，測量結(jié)果將更加準(zhǔn)確。
2.確定校準(zhǔn)樣品和被測量物體的以下屬性匹配： -- 表面的曲率半徑 -- 襯底材料(如磁導(dǎo)率，電導(dǎo)；以理想的方式，標(biāo)準(zhǔn)試樣和測量對象應(yīng)是同樣的材料) -- 基材厚度 -- 測量區(qū)域的尺寸3.在開始校準(zhǔn)之前，確保校準(zhǔn)點，傳感器提示和校準(zhǔn)的樣板是干凈的。如果有必要，去除任何如油脂，金屬屑等堆積物。任何雜質(zhì)可能影響校準(zhǔn)和導(dǎo)致校準(zhǔn)的不穩(wěn)定。
4.確?？偸钦业礁髯缘耐恍?zhǔn)位置，特別是小零件的測量和在棱角的測量。小零件建議使用測量支架。
5.在校準(zhǔn)過程中遠(yuǎn)離強磁場。
6.更多可以與預(yù)期厚度匹配的標(biāo)定標(biāo)準(zhǔn)厚度，將校準(zhǔn)和測量更加準(zhǔn)確。
7.根據(jù)電磁感應(yīng)方法，測量鋼或鐵襯底上的有色金屬涂料的厚度，需要多點校正。厚度標(biāo)準(zhǔn)樣本必須由作為以后要測量的物體相同的金屬制成。
8.如果使用校準(zhǔn)箔，確保它們被放置在基板材料的平面位置上。箔下面的空氣間隙必須避免，因為這將導(dǎo)致不穩(wěn)定的讀數(shù)。如果是曲線的鋁箔，確保它們放置在基體上，如下所示。
9.精密厚度標(biāo)準(zhǔn)必須小心處理。 厚度標(biāo)準(zhǔn)的任何磨損和破損將以錯誤的校準(zhǔn)值反映出來。不許折疊校準(zhǔn)箔。任何屈曲將導(dǎo)致貼膜下面產(chǎn)生氣隙，導(dǎo)致不穩(wěn)定的讀數(shù)。保持厚度標(biāo)準(zhǔn)的清潔。任何油脂、油、灰塵或其他堆積物必須避免。鋁箔的堆積物將被視為厚度，并將導(dǎo)致與堆積物厚度相同值的測量誤差。給你一個大概的概念：一個指紋的堆積物就足以造成數(shù)微米的附加厚度誤差。
