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Qnix 4500測(cè)厚儀檢測(cè)方法

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Qnix 4500測(cè)厚儀檢測(cè)方法

在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類材料的保護(hù)或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)*的zui重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的*手段。
目前，國(guó)內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)定涂鍍層厚度，覆層無(wú)損檢測(cè)的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進(jìn)步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無(wú)損檢測(cè)方法，主要有：楔切法、光截法、電解法、厚度差測(cè)量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面，系有損檢測(cè)，測(cè)量手段繁瑣，速度慢，多適用于抽樣檢驗(yàn)。X射線和β射線反射法可以無(wú)接觸無(wú)損測(cè)量，但裝置復(fù)雜昂貴，測(cè)量范圍小。因有放射源，故使用者必須遵守射線防護(hù)規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測(cè)量。電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測(cè)試上應(yīng)用。磁性測(cè)量法及渦流測(cè)量法，隨著技術(shù)的日益進(jìn)步，特別是近年來(lái)引入微處理機(jī)技術(shù)后，測(cè)厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實(shí)用化方面邁進(jìn)了一大步。測(cè)量的分辨率已達(dá)0.1μm，精度可達(dá)到1%。又有適用范圍廣，量程寬、操作簡(jiǎn)便、價(jià)廉等特點(diǎn)。是工業(yè)和科研使用zui廣泛的儀器。采用無(wú)損檢測(cè)方法測(cè)厚既不破壞覆層也不破壞基材，檢測(cè)速度快，故能使大量的檢測(cè)工作經(jīng)濟(jì)地進(jìn)行。我金碩特公司現(xiàn)對(duì)以下分別介紹幾種常規(guī)測(cè)厚的方法分別介紹。

磁性測(cè)量原理
一、磁吸力原理尼克斯測(cè)厚儀利用磁鐵測(cè)頭與導(dǎo)磁的鋼材之間的吸力大小與處于這兩者之間的距離成一定比例關(guān)系可測(cè)量覆層的厚度，這個(gè)距離就是覆層的厚度，所以只要覆層與基材的導(dǎo)磁率之差足夠大，就可以進(jìn)行測(cè)量。鑒于大多數(shù)工業(yè)品采用結(jié)構(gòu)鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成形，所以磁性測(cè)厚儀應(yīng)用zui廣。測(cè)量?jī)x基本結(jié)構(gòu)是磁鋼，拉簧，標(biāo)尺及自停機(jī)構(gòu)。當(dāng)磁鋼與被測(cè)物吸合后，有一個(gè)彈簧在其后逐漸拉長(zhǎng)，拉力逐漸增大，當(dāng)拉力鋼大于吸力磁鋼脫離的一瞬間記錄下拉力的大小即可獲得覆層厚度。一般來(lái)講，依不同的型號(hào)又不同的量程與適應(yīng)場(chǎng)合。在一個(gè)約350o角度內(nèi)可用刻度表示0～100μm;0～1000μm;0～5mm等的覆層厚度，精度可達(dá)5%以上，能滿足工業(yè)應(yīng)用的一般要求。這種儀器的特點(diǎn)是操作簡(jiǎn)單、強(qiáng)固耐用、不用電源和測(cè)量前的校準(zhǔn)，價(jià)格也較低，很適合車間作現(xiàn)場(chǎng)質(zhì)量控制。

二、磁感應(yīng)原理測(cè)厚儀磁感應(yīng)原理是利用測(cè)頭經(jīng)過(guò)非鐵磁覆層而流入鐵基材的磁通大小來(lái)測(cè)定覆層厚度的，覆層愈厚，磁通愈小。由于是電子儀器，校準(zhǔn)容易，可以實(shí)多種功能，擴(kuò)大量程，提高精度，由于測(cè)試條件可降低許多，故比磁吸力式應(yīng)用領(lǐng)域更廣。當(dāng)軟鐵芯上繞著線圈的測(cè)頭放在被測(cè)物上后，儀器自動(dòng)輸出測(cè)試電流，磁通的大小影響到感應(yīng)電動(dòng)勢(shì)的大小，儀器將該信號(hào)放大后來(lái)指示覆層厚度。早期的產(chǎn)品用表頭指示，精度和重復(fù)性都不好，后來(lái)發(fā)展了數(shù)字顯示式，電路設(shè)計(jì)也日趨完善。

采用電渦流原理的測(cè)厚儀，原則上所有導(dǎo)電體上的非導(dǎo)電體覆層均可測(cè)量，如航天航空器表面、車輛、家電、鋁合金門窗及其他鋁制品表面的漆，塑料涂層及陽(yáng)極氧化膜。有些特種用途如某種金屬上的金剛石鍍層及其它噴鍍不導(dǎo)電層。覆層材料也可以有一定的導(dǎo)電性，通過(guò)校準(zhǔn)同樣也可以測(cè)量，但要求兩者的導(dǎo)電率之比至少相差3～5倍以上(如銅上鍍鉻)。校準(zhǔn)的原則是沒(méi)有覆層的校準(zhǔn)試樣與被測(cè)物的基材應(yīng)有：成分相同，厚度相同(主要在于厚度小于儀器規(guī)定的zui小值約0.5mm以下時(shí))，便攜式硬度計(jì)有相同的曲率半徑，如被測(cè)面積小于儀器技術(shù)參數(shù)的要求(直徑約20mm以下)，還應(yīng)有相同的被測(cè)面積。如覆層含有導(dǎo)電成份，校準(zhǔn)試樣的覆層也應(yīng)與被測(cè)物的覆層有相同的導(dǎo)電性能。校準(zhǔn)試樣的覆層經(jīng)過(guò)其它(包括有損測(cè)試方法)測(cè)試后標(biāo)定厚度或用已標(biāo)定的校準(zhǔn)薄片做覆層，就可以在其上面按說(shuō)明書的方法校準(zhǔn)測(cè)厚儀。校準(zhǔn)后就可以在被測(cè)產(chǎn)品上進(jìn)行快速無(wú)損檢測(cè)。校準(zhǔn)薄片一般用三醋酸酯薄膜或經(jīng)苯酚樹脂浸漬過(guò)的硬紙。微電腦測(cè)厚一般有多個(gè)校準(zhǔn)值存貯。隨著被測(cè)產(chǎn)品的不同位置、材料變化、更換測(cè)頭等均可分別校準(zhǔn)并存貯。實(shí)際使用時(shí)直接調(diào)用各校準(zhǔn)值，就無(wú)須重新調(diào)校了。這即是所謂“速換基準(zhǔn)”。大大提高了檢測(cè)效率。測(cè)試數(shù)據(jù)在智能化儀器里一般可以存貯、打印、計(jì)算統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)供分析，還有可以打印直方圖的功能使覆層厚度分布一目了然。如設(shè)置了上下極限還可以使統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)更加準(zhǔn)確，測(cè)量時(shí)所有超限的點(diǎn)都有聲響提醒注意并不取入做統(tǒng)計(jì)計(jì)算用。