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QNix 1200/1500涂鍍層測(cè)厚儀

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QNix 1200/1500涂鍍層測(cè)厚儀

QNix1200和QNix1500這兩種型號(hào)一體化設(shè)計(jì)，只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)，使用極其簡(jiǎn)單。其中QNix1200為磁性測(cè)厚儀，可以用來(lái)測(cè)量鋼、鐵等磁性基體上的涂層、鍍層；QNix1500為磁性和渦流兩用測(cè)厚儀，不僅可以用來(lái)測(cè)量鋼鐵等磁性基體，還可以用來(lái)測(cè)量鋁、銅、不銹鋼等非磁性金屬表面的涂層、氧化膜、磷化膜等覆層。這兩個(gè)型號(hào)操作簡(jiǎn)單，攜帶方便，精度高，探頭和機(jī)身成90°直角設(shè)計(jì)，可滿足一些狹小空間（如管道內(nèi)壁）的測(cè)量，為廣大用戶所喜愛(ài)。

優(yōu)點(diǎn)：
只需調(diào)零，無(wú)需校準(zhǔn)
測(cè)量精度高
一體分體通用
可配多種探頭
記憶型帶存儲(chǔ)功能
可選探頭：
鐵基探頭：    0－2000μm    0－5000μ
非鐵基探頭:  0－2000μm    0－5000μ
兩用探頭：0－2000μm    0－5000μ

產(chǎn)品優(yōu)點(diǎn)：
•　雙探頭雙用途
•　QNix1500單探頭量程可達(dá)5000um
•　自動(dòng)開(kāi)關(guān)機(jī)
•　探頭直角設(shè)計(jì)，方便測(cè)量管內(nèi)壁等狹小空間

零位穩(wěn)定：
所有涂層測(cè)厚儀測(cè)量前都要求校準(zhǔn)零位，
可以在隨儀器的校零板或未涂覆的工件上校零。
儀器零位的穩(wěn)定是保證測(cè)量準(zhǔn)確的前提。
一臺(tái)好的測(cè)厚儀校零后，可以長(zhǎng)時(shí)間保持零位不漂移，確保準(zhǔn)確測(cè)量

無(wú)需校準(zhǔn)：
多數(shù)測(cè)厚儀除了校零外，還需要用標(biāo)準(zhǔn)片進(jìn)行調(diào)校。測(cè)量某一范圍厚度，要用某一范圍的標(biāo)準(zhǔn)片調(diào)校。主要是不能滿足全范圍內(nèi)的線性精度。不僅操作煩瑣，而且也會(huì)因標(biāo)準(zhǔn)片表面粗糙失效，增大系統(tǒng)誤差。

溫度補(bǔ)償：
涂覆層厚度的測(cè)量受溫度影響非常大。同一工件在不同溫度下測(cè)量會(huì)得出很大的誤差。所以好的測(cè)厚儀應(yīng)該具備理想的溫度補(bǔ)償技術(shù)，以保證不同溫度下的測(cè)量精度。

紅寶石探頭：
探頭接觸點(diǎn)的耐磨性直接影響測(cè)量的精度。普通金屬接觸探頭，其表面磨損后會(huì)帶來(lái)很大的誤差。

無(wú)損檢測(cè)技術(shù)是一門理論上綜合性較強(qiáng)，又非常重視實(shí)踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計(jì)算等諸多方面。在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中，為了實(shí)現(xiàn)對(duì)各類材料的保護(hù)或裝飾作用，通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽(yáng)極氧化處理等方法，這樣，便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”。覆層的厚度測(cè)量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進(jìn)行成品質(zhì)量檢測(cè)*的zui重要的工序。是產(chǎn)品達(dá)到優(yōu)質(zhì)標(biāo)準(zhǔn)的*手段。