手機(jī)號(hào)碼:17321352692
地 址:上海市浦東外高橋自貿(mào)區(qū)富特東三路526號(hào)5號(hào)樓311室
EPK測(cè)厚儀探頭價(jià)格?,德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司MiniTest1100/2100/3100/4100涂鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn):
MiniTest1100/2100/3100/4100包括四種不同的主機(jī),各自具有不同的數(shù)據(jù)處理功能;
- 所有型號(hào)均可配所有探頭
- 可通過(guò)RS232接口連接MiniPrint打印機(jī)和計(jì)算機(jī)
- 可使用一片或二片標(biāo)準(zhǔn)箔校準(zhǔn)
可選探頭參數(shù)(探頭圖示)
所有探頭都可配合任一主機(jī)使用。在選擇適用的探頭時(shí)需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
N兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能
探頭 | 量程 | 低端 分辨率 | 誤差 | *小曲率 半徑(凸/凹) | *小測(cè)量 區(qū)域直徑 | *小基 體厚度 | 探頭尺寸 |
F05 | 0-500μm | 0.1μm | ±(1%+0.7μm) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62mm |
F1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
F1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x170mm |
F3 | 0-3000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62mm |
F10 | 0-10mm | 5μm | ±(1%+10μm) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46mm |
F20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+10μm) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66mm |
F50 | 0-50mm | 10μm | ±(3%+50μm) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70mm |
N02 | 0-200μm | 0.1μm | ±(1%+0.5μm) | 1/10mm | 2mm | 50μm | φ16x70mm |
N.08Cr | 0-80μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 2.5mm | 2mm | 100μm | φ15x62mm |
N1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 2mm | 50μm | φ15x62mm |
N1.6/90 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面/10mm | 5mm | 50μm | φ13x170mm |
N10 | 0-10mm | 10μm | ±(1%+25μm) | 25/100mm | 50mm | 50μm | φ60x50mm |
N20 | 0-20mm | 10μm | ±(1%+50μm) | 25/100mm | 70mm | 50μm | φ65x75mm |
N100 | 0-100mm | 100μm | ±(1%+0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50μm | φ126x155mm |
CN02 | 10-200μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 7mm | 無(wú)限制 | φ17x80mm |
FN1.6 | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F:0.5mm N:50μm | φ15x62mm |
FN1.6P | 0-1600μm | 0.1μm | ±(1%+1μm) | 平面 | 30mm | F:0.5mm N:50μm | φ21x89mm |
FN2 | 0-2000μm | 0.2μm | ±(1%+1μm) | 1.5/10mm | 5mm | F:0.5mm N:50μm | φ15x62mm |
探頭圖示
FN1.6 0~1600μm,φ5mm 兩用測(cè)頭,可測(cè)銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm) | |
FN1.6P 0~1600μm,φ30mm兩用測(cè)頭,特別適合測(cè)粉末狀的覆層厚度 | |
F05 0~500μm,φ3mm 磁性測(cè)頭,適于測(cè)量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等量程低端分辨宰很高(0.1μm) | |
F1.6 0~1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭量程低端分辨率很高(0.1μm | |
F3 0~3000μm,φ5mm 磁性測(cè)頭可用于較厚的覆層 | |
F1.6/90 0~1600μm,φ5mm 90度磁性測(cè)頭尤其適合于在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(0.1μm) | |
F10 0~10mm,φ20mm適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 | |
F20 0~20mm,φ40mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 | |
F50 0~50mm,φ300mm 適合測(cè)量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層 | |
N02 0~200μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭,尤其適合測(cè)量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm) | |
N0.8Cr 0~80μm,φ2mm 適用于測(cè)量銅、鋁、黃銅上的極薄鍍鉻層 | |
N1.6 0~1600μm,φ2mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層量程低端分辨率很高(0.1μm) | |
N1.6/90 0~1600μm,φ5mm 磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較薄的絕緣覆層尤其適合在管內(nèi)壁測(cè)量量程低端分辨率很高(0.1μm) | |
N10 0~10mm,φ50mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | |
N20 0~20mm,φ70mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | |
N100 0~100mm,200mm 非磁性測(cè)頭,適于測(cè)量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等 | |
CN02 10~200μm,φ7mm 用于測(cè)量絕緣材料上的有色金屬覆層,如覆銅板 |
?篤摯儀器(上海)有限公司主要從事物理表面檢測(cè)儀器的的銷售與服務(wù)。篤摯有著長(zhǎng)期致力于業(yè)內(nèi)的高技術(shù)人才和高效的管理團(tuán)隊(duì),人才是公司立足和翹楚于行業(yè)的根本保證,也是日后拓展的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ),是公司寶貴的財(cái)富。篤摯產(chǎn)品涵蓋長(zhǎng)度計(jì)量?jī)x器,光學(xué)儀器、形狀類儀器,材料檢測(cè)儀器,涂裝與表面處理檢測(cè)儀器,歷來(lái)為眾多國(guó)內(nèi)外大中型企業(yè)提供過(guò)服務(wù),并以優(yōu)良的品質(zhì)和完善的服務(wù)贏得了客戶的*,并在行業(yè)建立了穩(wěn)固的市場(chǎng)地位。篤摯引用的良好技術(shù)和管理經(jīng)驗(yàn),建全完善了管理制度,對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和售前、售后進(jìn)行嚴(yán)格的管控,持續(xù)地提高了公司的產(chǎn)品和服務(wù)質(zhì)量,贏得了顧客的信賴,使篤摯的產(chǎn)品的供應(yīng)量在國(guó)內(nèi)各大城市以及市場(chǎng)迅猛增長(zhǎng),并取得業(yè)界好評(píng)。
EPK測(cè)厚儀探頭價(jià)格 - MiniTest725/735/745系列可選探頭:
MiniTest725 /735/745是設(shè)計(jì)用于非破壞性涂層厚度測(cè)量,原產(chǎn)德國(guó),品牌Elektrophysik(簡(jiǎn)寫(xiě)epk),是MiniTest720 /730/740的升級(jí)型號(hào)。MIiniTest 700系列的所有型號(hào)可以連接到不同的探頭。根據(jù)探頭類型,他們的工作原理分別為磁感應(yīng)原理或渦流原理或兩者兼具。升級(jí)款MiniTest725 /735/745系列便攜式測(cè)厚儀適用于無(wú)損、快速、準(zhǔn)確的涂層厚度測(cè)量。易于操作,是精加工行業(yè)、油漆車間、電鍍、船橋建筑、飛機(jī)制造、工程或化工行業(yè)的消費(fèi)者、專家或公共機(jī)構(gòu)的理想工具。用于測(cè)量:鐵基體上的非磁性涂層(如油漆、清漆、搪瓷、鍍鉻和鍍鋅);或者有色金屬上(如銅,鋁,壓鑄鋅,黃銅等)的絕緣涂層(如油漆、陽(yáng)極氧化膜層或陶瓷)。
可選探頭 | 探頭型號(hào): | 類型: | 測(cè)量范圍: | Uncertainty(of Reading): | Minimum*小測(cè)量點(diǎn): |
磁感應(yīng)測(cè)頭 | F0.5M-0 F0.5M-45° F0.5M-90° | A | 0 ... 0.5 mm | ± (0.5 µm + 0.75 %) | Ø 3 mm |
F1.5 | B / E | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F1.5-90° | C | 0 ... 1.5 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F2 | B / E | 0 ... 2.0 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
F2.6 | B / E | 0 ... 2.6 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
F5 | B / E | 0 ... 5.0 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
F15 | D | 0 ... 15 mm | ± (5.0 µm + 0.75 %) | Ø 25 mm | |
渦流測(cè)頭 | N0.7 | B / E | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm |
N0.7-90° | C | 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
N2.5 | B / E | 0 ... 2.5 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm | |
N7 | D | 0 ... 7.0 mm | ± (5.0 µm + 0.75 %) | Ø 20 mm | |
雙功能測(cè)頭 | FN1.5 | B / E | F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm |
FN1.5-90° | C | F: 0 ... 1.5 mm N: 0 ... 0.7 mm | ± (1.0 µm + 0.75 %) | Ø 5 mm | |
FN2.6 | B / E | F: 0 ... 2.6 mm N: 0 ... 1.0 mm | ± (1.0 µm + 0,75 %) | Ø 5 mm | |
FN5 | B / E | F: 0 ... 5.0 mm N: 0 ... 2.5 mm | ± (1.5 µm + 0.75 %) | Ø 10 mm |
篤摯儀器主要經(jīng)營(yíng)的儀器有EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7200 FH4探頭 測(cè)頭FH 4.1 EPK壁厚測(cè)厚儀MiniTest FH7400 EPK涂層測(cè)厚儀探頭Printer MiniPrint7000 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS2E/DMS2/DMS2TC 超聲波測(cè)厚儀TT130 超聲波測(cè)厚儀TT120 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7DL 高精密超聲波測(cè)厚儀PX-7 A/B掃描高精密超聲波測(cè)厚儀PVX 超聲波測(cè)厚儀TT100 高精密超聲波測(cè)厚儀CL400探頭 帶A/B掃描功能的超聲波測(cè)厚儀MVX 高精密超聲波測(cè)厚儀CL5 超聲波測(cè)厚儀TT110 超聲波測(cè)厚儀MMX-6 A/B掃描超聲波測(cè)厚儀DMS Go 水下超聲波測(cè)厚儀UMX-2 超聲波測(cè)厚儀MMX-6DL 一體化超聲波測(cè)厚儀PocketMIKE 超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTG Std 超聲波測(cè)厚儀MX-3 超聲波測(cè)厚儀MX-5 超聲波測(cè)厚儀PosiTect0rUTGME 超聲波測(cè)厚儀MX-5DL 超聲波測(cè)厚儀DM5E Basic 超聲波測(cè)厚儀DM5E 超聲波測(cè)厚儀DM5EDL 濕膜測(cè)厚儀WetTest 德國(guó)EPK GalvanoTest小樣品夾具 德國(guó)EPK庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000 超聲波涂層測(cè)厚儀PosiTector200 庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 3000 涂層測(cè)厚儀