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FISCHERSCOPE X-RAY 5000 x射線熒光測厚儀
FISCHERSCOPE X-RAY 5000系列儀器是為了集成到生產(chǎn)線而特別設計的法蘭式測量頭。它*適合于在連續(xù)運轉(zhuǎn)的生產(chǎn)過程中連續(xù)、非破壞地在線直接對大面積產(chǎn)品進行合金成分分析或者*薄鍍層測量。相對于X-RAY 4000系列而言,X-RAY5000沒有配備可切換的濾片和準直器,也沒有配備視頻系統(tǒng),因為這些裝置對于表面積很大的樣品來說通常是不需要的。
X-RAY 5000系列儀器可以根據(jù)使用進行*定制:X射線源、基本濾片和半導體接收器,更能為您的應用配備*良好的半導體接收器。儀器可以在空氣或者真空環(huán)境下使用,此外還可以提供帶有水冷系統(tǒng)的法蘭接口,它可以讓儀器毫無問題地測量表面溫度非常高的樣品(表面溫度*高可達500℃)。
根據(jù)儀器的設計,測量距離可以在60mm至150mm之間調(diào)節(jié):在特定的情況下,測量距離*大允許有1厘米的變動,例如由于樣品的起伏引起的,在測量時,WinFTM軟件會自動進行補償。儀器的校正直接在生產(chǎn)過程中對著校準板快速而簡便地完成。通過純元素庫的進行更好的校正(類似于臺式儀器的校準過程)是可行的,但是通常沒有必要。X-RAY 5000由于配備了*大的準直器、*良好的半導體接收器和數(shù)字脈沖處理器,重復精度非常好。儀器出色的長期穩(wěn)定性也大大降低了重新校準的必要,這樣既節(jié)約了時間,又節(jié)約了資源。
特征:
• 帶玻璃窗口的鎢靶的X射線管,也可選鈹窗口微聚焦鎢管、銠管或者鉬管,z高工作條件:50 kV, 50W
• X射線接收器采用珀耳帖法冷卻的硅-PIN探測器或者硅漂移探測器
• 固定的視準器:可選Ø 1 mm, Ø 2 mm, Ø4 mm 或者Ø 8 mm (使用SDD的機型還可以選用 Ø 11 mm)
• 固定的基本濾片
• 測量距離:可選60–100 mm 或者100–150mm
典型應用領域:
• 太陽能光伏業(yè)(CIGS, CIS, CdTe)
• 分析金屬帶、金屬箔和塑料薄膜上的*薄鍍層
• 連續(xù)生產(chǎn)過程在線測量
• 噴鍍和電鍍線的過程監(jiān)控
• 測量大面積樣品
應用實例:
在光伏產(chǎn)業(yè)中,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY 5000用來測量不同基材(如玻璃、金屬和塑料)上的CIGS、CIS和CdTe層的厚度和成分。該儀器設計非常緊湊,可以通過標準法蘭直接集成到生產(chǎn)線中去。整個工業(yè)設計專注于*大化其魯棒性和可維修性。例如:儀器可以在生產(chǎn)線真空環(huán)境中進行修理和維護,而并不需要中斷真空過程。為了將X-RAY 5000測量系統(tǒng)整合到上級的過程控制系統(tǒng)中,儀器具備符合工業(yè)標準的開放端口,例如:OPC。
CIGS: CuInGaSe/Mo/glass | CIGS: CuInGaSe/Mo/foil |
太陽能光伏業(yè)(CIGS, CIS, CdTe)