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德國(guó)Elektrophysik小型測(cè)厚儀

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德國(guó)Elektrophysik小型測(cè)厚儀

ElektroPhysik公司(簡(jiǎn)稱EPK)總部位于德國(guó)科隆，是生產(chǎn)表面檢測(cè)儀器的，有超過(guò)60年的市場(chǎng)經(jīng)驗(yàn)，研發(fā)和生產(chǎn)了品種繁多的的測(cè)量?jī)x器，EPK的代表產(chǎn)品有：MIKROTEST磁性涂層測(cè)厚儀，MINITEST、EXACTO電子型測(cè)厚儀，QUINTSONIC超聲波測(cè)厚儀，F(xiàn)H壁厚測(cè)厚儀，POROTEST針孔儀等。篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理ElektroPhysik測(cè)厚儀，專業(yè)的技術(shù)，優(yōu)惠的價(jià)格。

測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同，可大致分為：
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分：
點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀
面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：
激光測(cè)厚儀
超聲波測(cè)厚儀
涂層測(cè)厚儀
X射線測(cè)厚儀
白光干涉測(cè)厚儀
電解式測(cè)厚儀
管厚規(guī)

Elektrophysik超聲波測(cè)厚儀：超聲波測(cè)厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來(lái)進(jìn)行厚度測(cè)量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過(guò)被測(cè)物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過(guò)測(cè)量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來(lái)確定被測(cè)材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播的各種材料均可采用此原理測(cè)量。

Elektrophysik涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變，引起磁阻及探頭線圈電感的變化。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度。
涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；
設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）、zui大值（MAX）、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）
涂鍍層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量原理一般有以下五種類(lèi)型：
1.磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵，銀，鎳。此種方法測(cè)量精度高。
2.渦流測(cè)厚法：適用導(dǎo)電金屬上的非導(dǎo)電層厚度測(cè)量。此種較磁性測(cè)厚法精度低。
3.超聲波測(cè)厚法：適用多層涂鍍層厚度的測(cè)量或者是以上兩種方法都無(wú)法測(cè)量的場(chǎng)合。但一般價(jià)格昂貴，測(cè)量精度也不高。
4.電解測(cè)厚法：此方法有別于以上三種，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層，一般精度也不高。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。
5.放射測(cè)厚法：此處儀器價(jià)格非常昂貴（一般在10萬(wàn)RMB以上），適用于一些特殊場(chǎng)合。