測厚儀Mintest 3100膜厚測試儀華東區(qū)總代理
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可選探頭
所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
文章鏈接:中國化工儀器網(wǎng) http://www.chem17.com/company_news/Detail/246525.html
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能
MiniTest涂層測厚儀可選探頭參數(shù) 所有探頭都可配合任一主機使用。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀、厚度、大小、幾何尺寸等因素。 F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層 N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層 FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能 |
探頭 | 量程 | 低端分辨率 | 誤差 | zui小曲率半徑 | zui小測量區(qū)域直徑 | zui小基體厚度 | 探頭尺寸 (mm) | 磁 感 應(yīng) 法 | F05 | 0-500um | 0.1um | ±(1%±0.7um) | 1/5mm | 3mm | 0.2mm | φ15x62 | F1.6 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62 | F1.6/90 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170 | F2/90 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 平面/6mm | 5mm | 0.5mm | φ8x8x170 | F3 | 0-3000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | 0.5mm | φ15x62 | F10 | 0-10mm | 5um | ±(1%±10um) | 5/16mm | 20mm | 1mm | φ25x46 | F20 | 0-20mm | 10um | ±(1%±10um) | 10/30mm | 40mm | 2mm | φ40x66 | F50 | 0-50mm | 10um | ±(3%±50um) | 50/200mm | 300mm | 2mm | φ45x70 | 兩 用 | FN1.6 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50um | φ15x62 | FN1.6P | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 平面 | 30mm | F0.5mm/N50um | φ21x89 | FN2 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | F0.5mm/N50um | φ15x62 | 電 渦 流 法 | N02 | 0-200um | 0.1um | ±(1%±0.5um) | 1/10mm | 2mm | 50um | φ16x70 | N.08Cr | 0-80um | 0.1um | ±(1%±1um) | 2.5mm | 2mm | 100um | φ15x62 | N1.6 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 2mm | 50um | φ15x62 | N1.6/90 | 0-1600um | 0.1um | ±(1%±1um) | 平面/10mm | 5mm | 50um | φ13x13x170 | N2 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 1.5/10mm | 5mm | 50um | φ15x62 | N2/90 | 0-2000um | 0.2um | ±(1%±1um) | 平面/10mm | 5mm | 50um | φ13x13x170 | N10 | 0-10mm | 10um | ±(1%±25um) | 25/100mm | 50mm | 50um | φ60x50 | N20 | 0-20mm | 10um | ±(1%±50um) | 25/100mm | 70mm | 50um | φ65x75 | N100 | 0-100mm | 100um | ±(1%±0.3mm) | 100mm/平面 | 200mm | 50um | φ126x155 | CN02 | 10-200um | 0.2um | ±(1%±1um) | 平面 | 7mm | 無限制 | φ17x80 |
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注: | F1.6/90、F2/90、N1.6/90、N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測量。 N.08Cr適合銅上鉻,F(xiàn)N2也適合銅上鉻。 CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層。 |
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| FN1.6
0~1600μm,φ5mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層量程低端分辨率很高(O.1μm) |
| FN1.6P
0~1600μm,φ30mm 兩用測頭,特別適合測粉末狀的覆層厚度 |
| FN2
0~2000μm,φ5mm 兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬基體上的絕緣覆層 |
| F05
0~500μm,φ3mm 磁性測頭,適于測量細小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,氧化層等 量程低端分辨宰很高(O.1μm) |
| F1.6
0~1600μm,φ5mm 磁性測頭量程低端分辨率很高(O.1μm) |
| F3
0~3000μm,φ5mm 磁性測頭可用于較厚的覆層 |
| F1.6/90
0~1600μm,φ5mm 90度磁性測頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測量量程低端分辨率很高(O.1μm) |
| F2/90
0~2000μm,φ5mm 90度磁性測頭,尤其適合于在管內(nèi)壁測量 |
| F10
0~10mm,φ20mm 適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,如玻璃、塑膠、混凝土等 |